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Analysis of X-Ray Photoelectron Spectroscopy of Polymethyl Methacrylate Etched by a KrF Excimer Laser 被引量:2

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出处 《Chinese Physics Letters》 SCIE CAS CSCD 2005年第6期1526-1529,共4页 中国物理快报(英文版)
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参考文献14

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同被引文献25

引证文献2

二级引证文献7

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