摘要
图形编程工具LabVIEW在测试和测量领域深受欢迎，拥有广大用户，其本身亦在不断发展以适应测量技术的进步。当前，大量测量仪器采用嵌入式微机和DSP系统，以及FPGA、Flsah等新型逻辑和存储器件，还有多种总线的混合使用。由于测量系统的复杂程度增加，使得测量系统的设计和测量密不可分。这种情况与集成电路非常相似，早期的IC设计和测量是分开的，后来IC的复杂性提高，
出处
《国外电子测量技术》
2005年第4期46-46,共1页
Foreign Electronic Measurement Technology
