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NI中国成功举办第二届“设计、验证及测试论坛”

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摘要 本刊讯:2005年5月,NI公司于4月在上海国际会议中心成功主办第二届“设计、验证及测试论坛”(Design Validation Test Forum,即DVTF2005),今年的主题为”测试紧跟设计的步伐”。本届论坛总共吸引了逾500住工程师、技术人员和院校教师参与此次盛会,其中97.1%的来宾表示”此次活动对他们的工作有所帮助”,70%将会推荐他们的同事参加明年的”设计、验证及测试论坛”。在此次论坛期间,NI提出了若干驱动虚拟仪器技术发展的主导商业技术,并着重强调了PCIExpress和FPGA这两项。
出处 《计算机测量与控制》 CSCD 2005年第5期i001-i001,共1页 Computer Measurement &Control
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