HORIBA Jobin Yvon推出ACTIVA固体侦测器同步ICP发射分光仪

法国HORIBA Jobin Yvon公司宣布将向全球市场推出最新产品。新的ICP ACTIVA分光仪可同时在同一束WAV波中分析所有的组成成分及其背景(波长的解析图)，具有灵活，快速和分辨力高的特点。该分光仪在使用上具有很大的灵活性：可选择160～800nm之间的所有基础波长，可选择WAV模式，也可选择先进的分析模式，还可将分析速度和分析分辨力进行个性化设置。