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《集成电路测试与可测性设计》的教学探索
被引量:
2
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摘要
跟随当前集成电路技术的发展,在微电子专业开设课程《集成电路测试与可测性设计》,完善了学生的专业知识结构。
作者
闾晓晨
李斌
机构地区
华南理工大学物理科学与技术学院
出处
《中山大学学报论丛》
2005年第3期15-16,共2页
Supplement to the Journal of Sun Yatsen University
关键词
《集成电路测试可测性设计》
微电子
教学研究
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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中山大学学报论丛
2005年 第3期
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