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基于“透明”神经网络的模拟电路故障诊断

ANALOG CIRCUIT FAULT DIAGNOSIS BASED ON "TRANSPARENT" NEURAL NETWORK
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摘要 本文通过分析BP神经网络用于模拟电路故障诊断时的缺点,提出了一种新的神经网络,称为"透明"神经网络(TANN).然后将TANN用于模拟电路子网络级故障诊断,并通过实例验证了该诊断方法的有效性. In this paper,the defects of BP neural network in analog circuit fault diagnosis are discussed and a 'transparent' neural network (TANN) is introduced.The TANN is then used to diagnose analog circuit faults at sub-network level.Validity of this method is testified by experiments.
出处 《内蒙古工业大学学报(自然科学版)》 2004年第3期192-196,共5页 Journal of Inner Mongolia University of Technology:Natural Science Edition
基金 内蒙古自治区自然科学基金资助项目(No.200208020204) 内蒙古工业大学青年基金项目(No.200212)
关键词 子网络 故障诊断 BP神经网络 “透明”神经网络(TANN) sub-network fault diagnosis BP neural network 'transparent' neural network(TANN)
  • 相关文献

参考文献4

二级参考文献6

  • 1Liu R W,Testing and Diagnosis of Analog Circuits and Systems,1991年
  • 2He Y G,J Electronics,1998年,15卷,4期,365页
  • 3杨士元,模拟系统的故障诊断与可靠性设计,1993年,89页
  • 4焦李成,神经网络的应用与实现,1993年
  • 5Liu R W,Testing Diagnosis Analog Circuits Systems,1991年,1页
  • 6Zou R,Proc IEEE Symp Circ Syst,1988年,2卷,1163页

共引文献16

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