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先天愚型患儿染色体不稳定性的研究 被引量:13

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摘要 先天愚型患儿染色体不稳定性的研究丁秀原先天愚型(Downsyndrome,DS)是遗传性智力低下的最常见原因,其发病率约为1/600~1/800.此类患儿除智力低下及常伴发先天性心脏病等畸形外,发生白血病的风险约增加20倍[1]。我们通过对DS患儿外...
作者 丁秀原
机构地区 首都儿科研究所
出处 《中华医学遗传学杂志》 CAS CSCD 北大核心 1994年第3期178-179,共2页 Chinese Journal of Medical Genetics
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