期刊文献+

表面分析技术在材料研究中的应用 被引量:1

原文传递
导出
摘要 简要叙述了在材料科学中常用的三种表面分析技术AES(Auger Electron Spectroscopy)、XPS(X-ray Photoelectron Spectroscopy)和SIMS(Secondary Ion Mass Spectroscopy)的基本原理和装置。介绍了它们在这一领域中的部分应用。
作者 徐炜新
出处 《金属材料研究》 2005年第2期11-17,共7页 Research on Metallic Materials
  • 相关文献

参考文献9

二级参考文献5

  • 1崔昆.钢铁材料及有色金属材料[M].北京:机械工业出版社,1982.68-69.
  • 2胡赓祥,J Mater Sci Technol,1994年,10卷,435页
  • 3孟长功,金属学报,1993年,29卷,A56页
  • 4Hong T,J Mater Res,1991年,6卷,330页
  • 5Fu C L,J Mater Res,1990年,5卷,971页

共引文献1

同被引文献5

引证文献1

二级引证文献3

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部