摘要
Al2O3对CaO-Al2O3-SiO2系统微晶玻璃的烧结和析晶性能有较大的影响,从而影响微晶玻璃的残余应力。X射线衍射法对于残余应力测定有很多的优点。运用X射线衍射法测定了CaO-Al2O3-SiO2系统微晶玻璃的残余应力,研究了CaO-Al2O3-SiO2系统微晶玻璃的Al2O3含量对残余应力的影响:微晶玻璃中的残余应力随Al2O3的含量增加而减小。
出处
《国外建材科技》
2005年第3期1-3,共3页
Science and Technology of Overseas Building Materials
基金
国家自然科学基金(50272043)
湖北省自然科学基金(2002AB077)
武汉理工大学硅酸盐材料教育部重点实验室基金(SYSJJ2002-08).