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NI中国第二届设计验证及测试论坛落幕

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摘要 美国国家仪器有限公司日前在上海举办了第二届“设计、验证及测试论坛,”今年的主题为“测试紧跟设计的步伐”。
出处 《现代电子技术》 2005年第13期i001-i001,共1页 Modern Electronics Technique

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