γ分布与特征峰绝对探测效率关系的Monte-Carlo模拟

用γ谱法评估放射性物质的量时，必须获得相应的探测效率。当测量比较复杂体系中的放射性物质的量时，被测对象的材料密度、材料组分以及源分布状态的差异使得用标准源刻度法是非常困难的。因此，无标定量分析方法具有更适用的价值。该方法的理论基础是光子的输运理论，而解决光子输运问题最好的方法是蒙特卡洛(Monte-Carlo，简称MC)模拟方法。MC法能够逼真地描述真实的物理过程、在解决光子的输运问题时具有无可比拟的优点。为此，用MC方法来模拟γ源分布与特征峰绝对效率的关系具有重要的意义。对假定长方体内的点源、线源、面源和体源，以几种形式稀疏分布(均匀、抛物)，模拟计算了相应条件的特征射线的绝对探测效率，并讨论了模拟计算绝对探测效率与能量、吸收体厚度、源分布和探测几何位置等关系。模拟计算程序结构见图1。