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单片机受电磁辐射时的灵敏度
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摘要
现代电子电路受到诸如HEMP、UWB-EMP、HPM和SGEMP辐射时,轻则引起电路的瞬时扰动,严重时导致系统功能完全失效。本文研究了同一单片机电路在HEMP、HPM和UWB-EMP辐射下的灵敏度。
作者
谢泽元
杨蓉
出处
《中国工程物理研究院科技年报》
2003年第1期316-317,共2页
Annual Report of China Academy of Engineering Physics
关键词
单片机
电磁辐射
灵敏度
电路结构
分类号
TP368.1 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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中国工程物理研究院科技年报
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