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单片机受电磁辐射时的灵敏度

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摘要 现代电子电路受到诸如HEMP、UWB-EMP、HPM和SGEMP辐射时,轻则引起电路的瞬时扰动,严重时导致系统功能完全失效。本文研究了同一单片机电路在HEMP、HPM和UWB-EMP辐射下的灵敏度。
作者 谢泽元 杨蓉
出处 《中国工程物理研究院科技年报》 2003年第1期316-317,共2页 Annual Report of China Academy of Engineering Physics
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