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锂同位素质谱测量的几个问题
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摘要
锂同位素的应用有赖于锂同位素丰度的准确测量。锂作为最轻的金属元素,在用热表面电离质谱法测量同位素丰度时,试样在蒸发过程中的质量分馏效应、仪器的质量歧视效应相当明显,再加上锂在蒸发电离时难以形成稳定的离子流,使得准确测量锂同位素丰度有很大难度。以至于目前,国内外尚无公认的锂同位素丰度质谱测量的最佳方法。
作者
魏兴俭
出处
《中国工程物理研究院科技年报》
2003年第1期338-339,共2页
Annual Report of China Academy of Engineering Physics
关键词
锂同位素
质谱测量
热表面电离质谱法
质量歧视效应
分类号
O657.63 [理学—分析化学]
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中国工程物理研究院科技年报
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