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ICP—AES动态背景扣除法直接测定饱和盐水中痕量钙、镁、锶、钡 被引量:2

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摘要 本文介绍了国产7502B 型 ICP—AES 在国内离子膜电解行业中的应用。研究了 ICP—AES 动态背景扣除法直接测定饱和二次精制盐水中 Ca、Mg、Sr、Ba 的方法,解决了高盐堵塞雾化器和炬管及炬管炸裂的问题。制定了仪器操作条件。该法简便,快速、准确,对旭硝子提供的三批精制盐水中Ca、Mg、Sr、的测定结果与日方在其国内的测定值相吻合。本方法目前已成功地应用于膜法制碱工艺中二次盐水的质量控制。
出处 《光谱仪器与分析》 1994年第2期6-7,共2页
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  • 相关文献

参考文献2

  • 1朱锦方,曹秀琴,罗培卿,张雪金.感应耦合等离子体发射光谱法测定氮化硼和氧化镧中的痕量元素[J]分析化学,1980(06).
  • 2[日]不破敬一郎,[日]原口 主编,王小如,李玉珍.ICP发射光谱分析[M]化学工业出版社,1987.

同被引文献14

引证文献2

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