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2004爱德万测试技术研讨会在京、沪成功召开

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摘要 ADVANTEST日前分别在北京、上海召开了2004年技术研讨会。来自业内各大厂商的工程师、经理和IC测试人员及设计人员应邀出席了本次会议。
出处 《集成电路应用》 2005年第1期22-22,共1页 Application of IC

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