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2004爱德万测试技术研讨会在京、沪成功召开
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摘要
ADVANTEST日前分别在北京、上海召开了2004年技术研讨会。来自业内各大厂商的工程师、经理和IC测试人员及设计人员应邀出席了本次会议。
出处
《集成电路应用》
2005年第1期22-22,共1页
Application of IC
分类号
TN [电子电信]
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0
引证文献
0
二级引证文献
0
1
电子对抗专业情报网2004年技术研讨会[J]
.国际电子战,2003(10):21-21.
2
顾耀平.
信息产业部电子对抗情报网2004年技术研讨会会议纪要[J]
.电子对抗,2004(3):49-49.
3
爱德万测试2004年技术研讨会成功召开[J]
.中国集成电路,2005,14(1):39-39.
集成电路应用
2005年 第1期
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