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利用单片机实现微加速度计性能自动测试

A Way of Automatic Measuring Micro-Accelerometer Using Monolithic Computer
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摘要 利用ATMEL公司的高速嵌入式单片机实现MEMS加速度计性能指标的自动测试,对系统中的模拟地与数字地分离、正负电压上电时间控制、温度信息采集、串口通讯协议等细节作了详细分析。结果表明,这是一个低价而可靠的微加速度计自动测试解决方案。 An automatic measuring system based on the monolithic computer of ATMEL Corporation was introduced,according to the criterion of the measuring of micro-accelerometer.The A/D grounds separation,the time-lapse of P/N voltage,the temperature collection and the serial port protocol were analyzed.The results show that this is a low-cost and credible solution for micro-accelerometer auto-measurement.
出处 《微纳电子技术》 CAS 2005年第7期329-332,共4页 Micronanoelectronic Technology
基金 国家"十五"科技攻关项目(41308050103)
关键词 微加速度计 温度采集 自动测试 micro-accelerometer temperature collection automatic measuring
  • 相关文献

参考文献6

  • 1GJB1037-90-1991-01-26,单轴摆式伺服线加速度计试验方法[S].
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  • 6Datasheet for DS18B20 [Z] . MAXIM, 2002.

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