摘要
通过对 a-Si TFT 的基本工作特性的分析,提出了一种直观的 a-SiTFT 器件模型。基于此模型,采用一种新的方法对 a-Si TFT 的 C-V 特性进行了全面分析。模拟结果与实际测得 a-Si TFT 的 C-V 特性曲线变化趋势一致。
The basic features of-Si TFT are analyzed.A visualized model of-Si TFT is presented.Based on this model,a novel analytical method is used to discuss the- Si TFT's C-V characteristics.The simulation results of C-V characteristics well agreed with the measurement results by M.Shur,et al.
出处
《光电子技术》
CAS
1994年第2期132-137,共6页
Optoelectronic Technology