电子产品质量问题的最佳解决方案——数字集成电路参数测试
摘要
一般数字逻辑用“1”、“0”来表示高、低电平。这在所谓“功能测试仪”中不能得到定量的分析：
出处
《国外电子测量技术》
2005年第7期52-52,共1页
Foreign Electronic Measurement Technology
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