电容型TA介质损耗因数回升原因的分析

Cause Analysis on Rising Dielecric Loss of Capacitive TA

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摘要介绍并分析了电容型TA tanδ值回升的原因,提出制造工艺上应注意的问题。 In this article,causes of rising tanδ of capacitive TA is introduced and analyzed,and suggestions on manufacturing techniques are given.

作者郑立群郑永寅

机构地区牡丹江互感器厂

出处《华北电力技术》 CAS 2005年第7期20-21,共2页 North China Electric Power

关键词电容型TA 介质损耗率(tanδ) 介损回升绝缘干燥 capacitive TA Dielectric Loss(tanδ) Dielectric Loss rise insulation torrefaction

分类号 TM45 [电气工程—电器]

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