NI中国成功举办第二届“设计、验证及测试论坛”

美国国家仪器有限公司于4月在上海国际会议中心成功主办第二届“设计、验证及测试论坛”，今年的主题为“测试紧跟设计的步伐”。本届论坛总共吸引了逾500位工程师、技术人员和院校教师参与此次盛会，其中97．1％的来宾表示“此次活动对他们的工作有所帮助”，70％将会推荐他们的同事参加明年的“设计、验证及测试论坛”。在此次论坛期间，NI提出了若干驱动虚拟仪器技术发展的主导商业技术，并着重强调了PCI Express和FPGA这两项。