摘要
本文介绍了诊断X射线剂量检测方法,重点论述了其中的关键--基于电离室和半导体技术的辐射剂量探测原理,传感器结构、用途以及各自的特点,对测量不同对象和参量探测器的选择提出了参考意见。本文还提出了近年发展起来的新技术———复合探测器概念以及在诊断X射线质量保证技术上的优势,提出了X射线探测器发展趋势。
This paper introduces the testing method of diagnose X-ray dose , and discusses the chamber and semiconductor used in X-ray detector theory , structure and it's characteristics.How to select detector for each measure have been suggested.A new detector mix chamber and semiconductor can be used test kV、mA、exposure time、dose and doserate of X-ray unit discribes subsequently.
出处
《中国测试技术》
2005年第4期94-96,共3页
CHINA MEASUREMENT & TESTING TECHNOLOGY
基金
科技部科技基础性工作专项资金项目(2000年第69号)
关键词
诊断X射线
电离室
半导体探测器
Diagnose X-ray
Ionix chamber
Semiconductor detector