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M系列DAQ:一个测试设备,6种仪器

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摘要 按照当代市场的发展步伐,在全球测试、测量和控制行业中需求以指数速度增长不足为奇。无论是在工业控制中要求提高自动化效率.还是更迫切地要求降低测试和测量系统的综合成本,都使得工程师们要寻求能完成更多工作的先进硬件。为了满足这些需求.最近NI新推出了M系列数据采集(DAQ)设备,经过设计它以更低的价格提供更高的性能和更多的I/O通道。
出处 《电子产品世界》 2005年第08A期i003-i003,共1页 Electronic Engineering & Product World
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