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关于覆盖性质的乘积刻划

ON PRODUCT CHARACTERIZATION OF COVERING PROPERTIES
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摘要 本文对X×βX引入某些正规性的弱形式,并用它们给出仿紧、亚紧、次亚紧、次中紧等覆盖性质的统一的乘积刻划。 We defined some weak versions of normality and use them to give product characterization for covering properties.
作者 吴利生
机构地区 苏州大学数学系
出处 《苏州大学学报(自然科学版)》 CAS 1995年第3期1-4,共4页 Journal of Soochow University(Natural Science Edition)
关键词 仿紧 亚紧 次亚紧 拓扑空间 覆盖 paracompact, metacompact, w - normal, p - normal
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