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微分消卷积法在分析X射线能谱和衍射谱中的应用

APPLICATION OF DERIVATIVE DECONVOLUTION IN EDS AND DIFFRACTION X-RAY SPECTRUM
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摘要 x射线谱图中,谱峰的重叠现象十分常见。本文应用微分消卷积法,对实测的谱图进行消卷积处理,从而提高了x射线谱图的分辨率,使原来重叠的谱峰得以分离,通过谱峰面积的计算,得到了它们的相对含量,与配置值基本符合。 It is the common phenomenon that the spectral peaks are overlapped in the X - ray spectrum. In this paper, the derivative deconvolution method is applied to practical X - ray spectra, therefore the resolution of X - ray spectrum has been enhanced, and the overlapped peaks have been resolved. By calculating the peaks square, we have got their relative weight ratios, the results are approximately agreement with the real values.
机构地区 苏州大学物理系
出处 《苏州大学学报(自然科学版)》 CAS 1995年第3期37-39,共3页 Journal of Soochow University(Natural Science Edition)
基金 江苏省教委自然科学基金
关键词 能谱 衍射谱 X射线 微分消卷积法 deconvolution, derivative operation, energy despersion X - ray spectrum (EDS), diffraction X - ray spectrum.
  • 相关文献

参考文献3

二级参考文献8

  • 1董隽逸,苏州大学学报,1990年,1页
  • 2董隽逸,红外与毫米波学报,1988年,7A卷,4期,291页
  • 3李正直,光谱学与光谱分析,1985年,5卷,2期,1页
  • 4李岳生,样条函数方法,1979年
  • 5李正直,高等学校自然科学学报,1966年,16页
  • 6董隽逸,红外与毫米波学报,1988年,7卷,4期,291页
  • 7方建兴,王定兴.洛仑兹线型的微分自消卷积[J].光谱学与光谱分析,1991,11(2):24-27. 被引量:4
  • 8方建兴,王定兴.红外光谱的微分自消卷积[J].红外与毫米波学报,1991,10(3):187-192. 被引量:6

共引文献6

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