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简易低温样品室的研制及应用

DEVELOPMENT AND APPLICATION OF THE SIMPLE LOW TEMPERATURE SAMPLE ROOM
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摘要 本文叙述了简易低温样品室的设计原理、结构性能和它在电阻(R)—温度(T)测试仪中的应用。在Ni Ti形状记忆合金相变规律的研究中,测试和分析了该合金的二种典型的电阻(R)—温度(T)曲线。 This paper relates the designing principle,structures, properties and applications of the simple low temperature sample room in the resistance - temperature apparatus. In the study of the phase transformation of the NiTi shape memory alloy,the two kinds of the R - T curves are determined and analysed.
出处 《苏州大学学报(自然科学版)》 CAS 1995年第3期62-64,共3页 Journal of Soochow University(Natural Science Edition)
关键词 低温 样品室 电阻 温度 相变 形状记忆合金 low temperature sample room,resistance - temperature apparatus,phase transformation.
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