期刊文献+

杂质对生长SiGe/Si量子阱发光材料的影响

IMPURITY INFLUENCE ON THE PHOTOLUMINESCENCE FROM SiGe/Si QUANTUM WELL STRUCTURES
下载PDF
导出
摘要 发现Si源和Ge源中的深能级杂质是影响SiGe/Si量子附带过激子发光的主要因素.研究了在低阻衬底上外延、在量子阱中重掺Sb或顶层中重掺B都将减弱甚至淬灭量子阱的带边激子发光. Deep level impurities in the background were found to be vital for the luminescence of QW,grown by solid source Si MBE.The samples grown on undoped and heavily doped substrates,i.e.Sb-doped in QW and B-doped in cap layers were studied.Impurity contamination causes deep levels,which severely reduces radiative efficiency of SiGe/Si QWs.
出处 《红外与毫米波学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1995年第3期175-181,共7页 Journal of Infrared and Millimeter Waves
基金 自然科学基金
关键词 硅源 杂质 量子阱 发光 锗源 Si-MBE,SiGe/Si MQW, impurities,photoluminescence
  • 相关文献

参考文献2

共引文献3

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部