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掺铽氧化钇多晶的正电子寿命谱及阴极射线发光

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摘要 在不同条件下灼烧多晶掺铽氧化钇,并用正电子寿命谱和阴极射线发光来检验,正电子寿命和发光线强度1500-1600℃之间的高温烧结使颗粒快速生长,相关的结果证明,正电子寿命测量对研究材料微结构的实用性以及这些性能对发光的重要性。
作者 刘水斤
出处 《发光快报》 CSCD 1995年第6期52-54,共3页
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