期刊文献+

衍射法测量细丝直径的CCD系统

CCD System on Measuring Diameter of Slim by Diffraction
全文增补中
导出
摘要 设计制作了EPROM式CCD驱动器,实现了对TCD102C-1线阵CCD的驱动;该CCD与单片机构成的细丝衍射测径系统实现了对20~200um范围丝径的自动测量,并采用电子细分法提高了CCD的分辨率。 Having designed and produced EPROM driver for CCD。This driver makes the TCD102C-1lined CCD work normally.The system consisted of the TCD102C-1 lined CCD and MCS-51single-chip microcomputer completes the auto-measuring slim silk from 20um to 200um,andit improves the aesolution of CCD by the method of electronic separation。
机构地区 暨南大学物理系
出处 《暨南大学学报(自然科学与医学版)》 CAS CSCD 1995年第3期56-60,共5页 Journal of Jinan University(Natural Science & Medicine Edition)
关键词 衍射法 细丝 直径 测量 CCD系统 铜丝 lined CCD,single-chip microcomputer electronic separation
  • 相关文献

参考文献1

共引文献3

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部