部分扫描法可测性设计

对部分扫描法可测性设计进行了系统的分析，介绍了部分扫描法的最新进展，讨论了目前部分扫描法在集成电路设计中应用存在的问题，在此基础上提出了优化部分扫描可测性设计的方法。