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表面势阱对硅场发射的影响 被引量:1

Influence of Surface Potential Well on Field Emission from Silicon
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摘要 本文比较了半导体硅与金属场发射过程的差别,建立了表面势阱作用下硅场致发射的基本方程.用WKB近似,求出了硅场致发射的电流-电场关系. Abstract Field emission from metals is compared with that from silicon. Basic equation for field emission from silicoll is developed in which the surface potential well is considered. The emitted ctlrrent--field dependence is obtained on the basis of the WKB approximation.
作者 黄庆安
出处 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 1995年第8期587-593,共7页 半导体学报(英文版)
基金 东南大学青年科学基金
关键词 场发射 表面势阱 半导体表面 Band structure Electric field effects
  • 相关文献

参考文献7

  • 1黄庆安,东南大学学报,1993年,23卷,增刊,25页
  • 2黄庆安,向涛,秦明,张会珍,陈军宁,童勤义.用键合工艺制备大面积场发射阵列[J].科学通报,1993,38(9):780-782. 被引量:3
  • 3曾谨言,量子力学,1993年
  • 4Yang G,IEEE Trans Electron Devices,1991年,38卷,10期,2373页
  • 5虞丽生,半导体异质结物理,1990年
  • 6施敏,半导体器件物理,1987年
  • 7刘学悫,阴极电子学,1980年

二级参考文献1

  • 1黄庆安,1992年

共引文献2

引证文献1

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