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MNOS晶体管的存储特性及其测量方法

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摘要 本文介绍了MNOS晶体管的存储特性,包括开关滞后特性、写擦特性、存储电荷保留特性和耐久性.提出了测量这些特性的一种有效方法,并给出了研制中的MNOS晶体管的测量结果.
出处 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 1989年第1期25-27,37,共4页 Semiconductor Technology
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