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可控硅触发特性参数测试仪的设计与制作

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摘要 可控硅触发特性参数测试仪的设计与制作先明(成都大学成都610081)自一九五四年美国贝尔实验室皮尔逊(Gerald,Pearson)根据肖克莱(Willian,Shockdey)理论制成世界上第一只可控硅以来,由于可控硅特有的优点,从很小的儿童玩具到...
作者 先明
机构地区 成都大学
出处 《成都大学学报(自然科学版)》 1995年第2期58-60,共3页 Journal of Chengdu University(Natural Science Edition)
  • 相关文献

参考文献1

  • 1[荷]哈泽(H·A·G·Hazeu) 著,顾路祥等.电子元件五十年[M]科学技术文献出版社,1980.

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