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薄膜磁阻效应自动测试方法的研究被引量：1

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摘要介绍了磁性薄膜磁阻效应自动测试方法．实验中采用单片机８０３１来模拟三角波输出而产生超低频扫场电源，用平面直列式四探针测量磁阻，测试数据通过Ｘ－Ｙ记录仪记录下来，从而对薄膜的磁阻效应实现自动测试．

作者胡用时郑远开张德明

机构地区华中理工大学固体电子学系

出处《磁性材料及器件》 CSCD 1995年第1期53-56,20,共5页 Journal of Magnetic Materials and Devices

关键词薄膜磁阻效应单片机恒流自动测试

分类号 TN304.055 [电子电信—物理电子学]

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磁性材料及器件

1995年第1期

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