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微型薄膜磁阻传感元件在磁化和反磁化过程中的磁畴结构研究 被引量:2

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摘要 微型薄膜磁阻传感元件在磁化和反磁化过程中的磁畴结构研究余晋岳,周勇,宋柏泉,徐东(上海交通大学信息存储研究中心)摘要:应用Bitter粉纹技术观察和分析了微型磁阻传感元件在磁化和反磁化中磁畴结构变化的全过程,研究表明和元件中的Barkhausen跳跃...
出处 《磁性材料及器件》 CSCD 1995年第1期12-16,共5页 Journal of Magnetic Materials and Devices
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