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半导体整流器件质量概念和可靠性论证的新发展

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摘要半导体整流器件的静态特性是建立在经典的pn结导电理论的基础上的.也就是说通过整流器件直流伏安特性可以定量分析其静态特性.

作者孙家清

机构地区天津市第三半导体器件厂

出处《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 1989年第1期49-52,共4页 Semiconductor Technology

关键词半导体器件整流器质量可靠性

分类号 TN350.6 [电子电信—物理电子学]

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半导体技术

1989年第1期

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