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钠钝化与PSG中磷浓度的关系
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作者
毕定国
出处
《等离子体应用技术快报》
1995年第1期16-17,共2页
关键词
半导体器件
磷硅酸玻璃
集成电路
钝化
钠
磷
分类号
TN305 [电子电信—物理电子学]
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0
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0
1
张佐兰.
磷硅玻璃中磷浓度的检测和控制[J]
.上海半导体,1989(4):17-22.
2
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P^+-n^+隧道结的比接触电阻[J]
.固体电子学研究与进展,1991,11(1):44-48.
3
张华曹,谷岳生.
液态源磷扩散最佳工艺条件CAD模拟分析[J]
.电力电子技术,1994,28(3):50-53.
被引量:1
等离子体应用技术快报
1995年 第1期
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