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通信数字ASIC的测试

Tosting for Communication Digital ASIC
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摘要 本文追述了通信数字电路测试的一些主要技术,介绍了通信数字ASIC测试方法在国际上的最新进展,展望了它的发展方向。 In this paper,the important methods to test communication digital circuits are listed.Based Onpractical experience,the newest advance to test the communication digital ASIC is explained.Developmentdirection on the ASIC test is pointed out,
作者 丁瑾 胡健栋
机构地区 北京邮电大学
出处 《电信科学》 北大核心 1995年第5期2-5,共4页 Telecommunications Science
基金 国家教委员会留学回国资助费支持项目
关键词 通信 数字集成电路 ASIC 故障检测 集成电路 communication digital ASIC,fault test,test method
  • 相关文献

参考文献9

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  • 5丁谨,Proceedinds of IEEE 2nd Asian Test Symposium,1993年
  • 6丁瑾,第五届全国逻辑设计自动化会议论文集,1993年
  • 7丁谨,首届全国博士后学术大会论文集,1993年
  • 8魏道政,计算机辅助设计与图形学学报,1989年,1卷,1期,70页
  • 9丁谨,电子学报

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