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进口半导体器件质量的鉴别

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摘要本文论述了进口半导作器件质量鉴别和检验的方法,着重讨论和介绍了破坏性物理分析(DPA)在质量鉴别中的应用.

作者田锡进

机构地区航空工业总公司元器件质量和可靠性管理中心

出处《电子产品可靠性与环境试验》 1995年第5期53-56,共4页 Electronic Product Reliability and Environmental Testing

关键词半导体器件质量可靠性检测

分类号 TN306 [电子电信—物理电子学]

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电子产品可靠性与环境试验

1995年第5期

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