摘要
几年来,多层陶瓷电容器(MLC)用户已报告了与绝缘电阻(IR)有关的若干可靠性问题:在低于额定电压时IR降额超过规定时间(低压漏电),在高压使用时IR部分恢复,施加偏压时耗散因子不稳定,从库存密封袋中取出的MLC的IR降额.由于有各种原因的机理混淆不清,因而设计用来重现MLC失效相关的特殊条件的、象MIL-C-55681那样的现有试验程序不能有效地区分这些失效的根本原因.尽管这些试验程序总体上确实能有效地暴露薄弱产品批.但在商用产品批中的应用却费用过高.本文介绍了一种设计用来快速、有效和经济地检测MLC失效的可区分根本原因的试验程序.本试验程序将重点放在寻找有某种原因的缺陷上,而不是放在试图再生和测量个别失效机理本身上.一个模拟兆欧表和一台烘箱或加热板是用来实施试验所需的设备,可以成为用户及电容器供应商的良好工具.本文还介绍了,作用于MLC上的电应力和热应力为线性独立的、因而为可区分的并把稳态电压和热/机械应力的可区分效应用于MLC失效研究.本文还通过数据将试验程序的有效性与25℃偏压试验、普通电压调节试验和高加速寿命试验(HALT)作了对比.
出处
《电子产品可靠性与环境试验》
1995年第5期57-62,共6页
Electronic Product Reliability and Environmental Testing
