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可调闭合阈值的微加速度开关

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摘要 本文描述利用凸凹翘曲现象的可调加速度开关的设计制造和测试。一套SiO2/P^+-Si双层晶体梁加工成不同长度800μm、990μm和1000μm。在加工中,双层晶体梁因两个不同薄膜之间的残余应力差而被弯曲。已测得使每个梁翘曲转换电压分别为32V、56V、76.5V。检测质量为7μg的每个微梁开关的阈值加速度,通过在内电极上加0-67V的偏置电压,可以在0-10g、0-24g、0-38g范围内调节。
作者 殷显安 王洋
出处 《电子技术参考》 1995年第4期70-78,共9页
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