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实用集成芯片逻辑功能测试仪
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摘要
文章介绍了一种用XSO-CPU组成的基本逻辑电路集成芯片测试仪的原理和方法
作者
衷裕水
熊茂华
机构地区
南昌航空工业学院
出处
《电子技术(上海)》
北大核心
1995年第1期24-26,共3页
Electronic Technology
关键词
测试仪
集成电路
逻辑功能
分类号
TN431.207 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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电子技术(上海)
1995年 第1期
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