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精密硅片磨床的故障诊断

Fault Diagnosis for Precision Wafer Grinders
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摘要 当精密硅片磨床处于空载和模拟工作两种工况时,在磨床多点进行位移、速度、加速度的测试。根据故障诊断的相关函数分析方法,应用CDMS信号处理故障诊断与振动分析系统,从理论和实验两个方面分析,推断出该设备工件台平面轴承为主要故障所在。 The field test of displacements,velocities and accelerations of various testpoints in a certilrinprecision wafer grinder is performed in the condition of loadiess oporation and simulative oporation, Usingthe methed of correlation function analysis for fault diagnoois and wlth the alu of CDMS system,a syntheticanalysis is made on the response of the grinde r in beth time domain and frequency domain. Accurateprediction is achieved about the fault of plane bearing of work piece table of the grinder.
作者 朱钟淦 赖凡
出处 《电子科技大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1995年第1期97-101,共5页 Journal of University of Electronic Science and Technology of China
关键词 磨床 精密磨床 故障诊断 时域分析 频域分析 grinders precision grinder fault diagnoris time domain analysis frequency domain analysis
  • 相关文献

参考文献2

  • 1孙月明,机械振动学(测试与分析),1991年
  • 2沈玉娣,机械故障诊断FORIRAN源程序汇编,1990年

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