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能谱分析系统探头分辨率下降原因的分析与探讨

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摘要 能谱分析系统探头分辨率下降原因的分析与探讨张希顺(北京有色金属研究总院,北京100088)探头是能谱分析系统的关键部件。探头性能好坏决定着能谱分析系统的分辨率和探测效率的高低。目前世界上探测器制造技术发展很快,最新推出能谱分析系统探头中所采用的晶体在...
作者 张希顺
出处 《电子显微学报》 CAS CSCD 1995年第1期74-76,共3页 Journal of Chinese Electron Microscopy Society
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