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原子力显微术 被引量:8

Atomic Force Microscopy
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摘要 本文首先介绍了原子力显微术的基本理论,其次讨论了原子力显微镜的结构原理,主要报导了一台我们研制的使用光学偏转法检测的原子力显微镜及仪器性能,仪器测试的结果表明我们这台原子力显微镜获得到了原子分辨率,最后给出使用这台显微镜的首批实验结果。 This paper,firstly,introduces the basic theory of Atomic Force Microscopy,and then,An Atomic Force Mi-corscope based on the optical lever deflection method we made is mainly reported.The experiment shows thatthe atomic resolution is achieved.In the end, the first result of our microscope is discussed。
出处 《电子显微学报》 CAS CSCD 1995年第2期142-146,共5页 Journal of Chinese Electron Microscopy Society
关键词 原子力显微术 光学偏转法 Atomic Force Microscopy optical lever deflection method
  • 相关文献

参考文献1

  • 1Yang J,Ultramicroscopy,1993年,50卷,157页

同被引文献149

引证文献8

二级引证文献43

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