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模拟集成电路的测试与故障检测技术 被引量:2

Testing and Fault Detecting of Analog Integrated Circuit
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摘要 本文综述了模拟集成电路的测试及故障检测等有关问题,首先介绍面向性能的测试方法;然后讨论故障模型和面向故障的测试方法;在介绍了模拟集成电路的可测试性设计技术之后,讨论了利用电源电流监测进行故障检测的方法。 The problems related to the testing and fault detecting of analog integrated circuits are reviewed. The specification oriented testing technique is introduced first. Then the fault model of analog intergated circuit and the fault oriented testing method are discussed. After the introduction of testability and the design for testability of analog integrated circurt,a new algorithm for the testing and fault detecting of analog integrated circuit based on the monitoring of power supply current is discussed in detail.
作者 王志华
出处 《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1995年第10期81-85,31,共6页 Acta Electronica Sinica
关键词 集成电路 测试 故障检测 模拟集成电路 Testing of integrated circuit Fault detection Analog integrated circuit
  • 相关文献

参考文献5

  • 1Wang Z,Proc of 1994 European design and test conference,1994年
  • 2Wang Z,Proc of 3rd Asian test symposium,1994年
  • 3Wang Z,Proceedings of 1994 IEEE ISCAS,1994年
  • 4Shen J P,IEEE Design and Test Magzine,1985年,12卷,6期,13页
  • 5Wang Z,Proc of 1994 IEEE ICCAD

同被引文献18

引证文献2

二级引证文献21

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