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CMOS/SOI电路模拟与参数提取

CMOS/SOI ICs Simulation and Parameter Extraction
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摘要 SOI-MOSFET主要模型参数得到一致的提取,因而该模型嵌入SPICE后能保证CMOS/SOI电路的正确模拟工作,从CMOS/SOI器件和环振电路的模拟结果和实验结果看,两者符合得较好,说明我们所采用的SOIMOSFET器件模型及其参数提取都是成功的。 A unified and systematic parameter extraction for SOI MOSFET's has been presented,thereby the CMOS/SOI ICs simulation can use simulator such as SPICE after implemented with SOI MOSFET model. The results show that the SOI MOSFET model and the utilization of extraction program are trustworthy.
出处 《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1995年第11期96-98,共3页 Acta Electronica Sinica
关键词 CMOS/SOI电路横拟 器件参数提取 CMOS/SOI ICs simulation,Device parameter extraction
  • 相关文献

参考文献2

二级参考文献2

  • 1王守武,半导体学报,1985年,6卷,3期,225页
  • 2程玉华

共引文献3

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