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不同选通条件下对光谱烧孔孔深的研究

THE STUDY OF SPECTRAL HOLE DEPTH UNDER DIFFERENT GATING LIGHT
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摘要 本文从理论上分析了低激发密度下,选通光分别为脉冲光和连续光时,孔深随时间的变化,得到可以通过脉冲光烧孔、连续光选通的方法缩短烧孔时间.应用BaFCl0.5Br0.5:Sm2+(2%)进行了实验,分析了单脉冲烧孔的孔深. heoretical work on the relationship between the hole depth and different gating light schemes in photon gated spectral hole burning under the weak field limit was reported.It is possible to burn a hole with pulsed laser and then to gate it with continuous light for shortening the burning time of a hole.Using experimental results conducted on the sample BaFCl0.5 Br0.5:Sm2+ (2%),we also analyse the hole depth after one pulse.
出处 《发光学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1995年第1期5-10,共6页 Chinese Journal of Luminescence
基金 中国科学院长春物理研究所激发态物理开放实验室资助
关键词 光谱烧孔 选通光 孔深 选通条件 激光 spectral hole burning,hole depth, gating light
  • 相关文献

参考文献5

  • 1黄世华,发光学报,1993年,14卷,124页
  • 2张家骅,J Lum,1992年,53卷,275页
  • 3张家骅,Opt Lett,1992年,17卷,1148页
  • 4陈述春,光学学报,1992年,12卷,112页
  • 5黄世华,物理,1990年,19卷,331页

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