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原子力显微镜及其在电化学和电分析化学中的应用 被引量：4

Atomic Force Microscopy in Electrochemistry and Electroanalytical Chemistry
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摘要 本文评述了原子力显微镜原理和技术及其在现场电化学和电分析化学领域中的应用,并展望了扫描隧道显微镜和原子力显微镜在电化学和电分析化学中的发展方向. The principle and technique of atomic force microscopy (AFM) are briefly surveyed. The application of in situ AFM in electrochemistry and electroanalytical chemistry is critically evaluated. And the future development of in situ STM and AFM is outlooked.
作者 李晶 汪尔康
机构地区 中国科学院长春应用化学研究所电分析化学开放研究实验室
出处 《分析化学》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1995年第11期1341-1348,共8页 Chinese Journal of Analytical Chemistry
基金 国家自然科学基金资助项目
关键词 原子力显微镜 电化学 电分析化学 评述 STM Atomic force microscopy, electrochemistry and electroanalytical chemistry, in situ analysis surface analysis, review
分类号 O657.1 [理学—分析化学]
  • 相关文献

参考文献6

  • 1Chen C H，J Phys Chem，1993年，97卷，9754页
  • 2Chen C H，J Am Chem Soc，1992年，114卷，451页
  • 3Chen C H，J Am Chem Soc，1992年，114卷，5439页
  • 4Chen C H，Phys Rev Lett，1992年，68卷，1571页
  • 5白春礼，扫描隧道显微术及其应用，1992年
  • 6李晶，Synthetic Metals

同被引文献27

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  • 2何玉琳,章海军,林晓峰.压电陶瓷驱动的微步进机构研制[J].光学仪器,2004,26(4):26-29. 被引量：4
  • 3杨金涛,徐文东.针尖扫描原子力显微镜的光点跟踪设计[J].中国激光,2006,33(1):26-30. 被引量：5
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引证文献4

二级引证文献14

分析化学
1995年 第11期

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