端口测试的可测试性判据

一、引言各类系统的不断微型化体现了当前科技进步的一个重要趋势。无论是机电系统或电子系统,特别是以集成电路为核心的微电子系统,微型化趋势尤为突出。伴随而来的必然后果便是这些系统的闭锁特性。正因如此,对于这些系统的测试只能在它们的有限个可及端口上进行。事实上,端口测试目下已成为日常测试的主要部分。如何从为数很少的可及端口上进行测试,并尽可能充分地提取被测系统内部状态的信息,例如其中有关组件的参数实际值(偏离正常标称值的大小),以至故障的有无、故障的位置和故障的严重程度。这些信息是否可以完全取得及其详确情况,均得依赖端口测试所测数据,由此出发进行研究。因此,端口测试的可测试性研究,已成为该测试有效与否及有效性程度的一个关键问题。不仅如此,端口测试的可测试性并且是该系统可诊断性和可靠性的必要依据。更因近代系统的功能复杂及对其性能的严格要求,使得端口测试的可测试性研究感到十分紧迫。这个研究涉及到整个系统的各部分,并从设计开始直到制造、加工及运用和维护的全过程。由于不同系统所处的情况各异,因此对可测试性的要求也不尽同;同时系统内部已知信息和未知信息的原有条件也不一律,这样对可测试性的要求也不唯一。正因如此,研究端口测试的可测试性也应进行分类。研究端口测试的可测试性,一般都假定该待测系统的内部具体结构及组件性质是已知的,