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NaK分子D^1π态自发辐射寿命及其总碰撞猝灭截面的测量

Determination of the Spontanesous Lifetimes and Total Quenching Cross Sections of D ̄1π(v',J') Levels of NaK in Collision with Ar Buffer Gas
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摘要 本文通过脉冲染料激光514.5nm激发NaK分子,用时间分辨荧光法详细测量了D1π态有效辐射寿命随缓冲Ar气压强的变化关系,利用Stern-Vollmer曲线外推得到了在T=348℃时Nak分子D'π态(v'=1,J'=67;V'=1,J'=95:V'=3,J'=122)的自发辐射寿命分别为16.1ns,15.1ns,14.7ns。Ar气对基碰撞猝灭截面分别为2.28nm3,2.12nm2和1.95nm2。Nak分子D'π态自发辐射寿命以及Ar气对D'π态总碰撞猝灭截面的测量。 Time-resolved fluorescence was applied for obtaining the Stern-Vollmer plot, which showing the dependce of inverse effective lifetimes of some excited (v',J')levels in D1πstate of NaK on the pressures of Ar buffer gas. From Stern-Vollmer plot, we determined the spontanesous lifetimes for the levels D1π(v'=1, J'=67;V'=1,J'=95, V'=3, J'=122), of NaK to be 16.1, 15.1 and 14.7 nsec, and the total que nching cross sections for the corresponding D1πlevels during collision with Ar atom at T=348℃ to be 2.28, 2.12 and 1.95 nm2, respectively.
出处 《光电子.激光》 EI CAS CSCD 北大核心 1995年第2期99-102,共4页 Journal of Optoelectronics·Laser
基金 福建省教委基金 福建师范大学青年基金
关键词 NaK分子 自发辐射寿命 碰撞猝灭截面 测量 spontanesous (effective) emission lifetimes Collisional quenching cross section.
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